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GY-MARS贵金属分析仪，采用最新科技分析X光荧光光谱，对贵金属成分进行无损快速分析。该仪器采用半导体探测器，分辨率为186eV远远优于正比计数探测器，准确无误地分析出黄金料中含铱、锇钌等元素。
GY-MARS比一般采用半导体探测器的分析仪，在连续工作时间，对环境要求等方面有明显的优势。配合我公司专门开发的分析软件，真正实现一点测量。GY-MARS贵金属分析仪采用美国生产的硅探测器XR-100CR。该款半导体探测器被NASA（美国国家航空航天局）所选用，作为“勇气”及“机遇”号火星车的探测器。 |
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仪器性能指标 |
1．外型尺寸：480×380×365（mm3）
2．样品仓尺寸：170×200×100（mm3）
3．重量：30kg
4．工作环境温度：5—30℃
5．工作环境相对湿度：≤80%
6．测量范围：金、铂（1%—100%）其它（10%—99.99%）
7．精确度：0.1%
8．测量时间：100—300（S）
9．分辨率：186eV FWHM @ 5.9keV
10．电源：AC100—240（V）
11．电源频率：47—63（Hz）
12．26种元素全范围同时分析
13．有分析、显示、打印等功能
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