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GY-MARS/T6600 X射线荧光光谱分析仪 (新)

作者:京国艺 来源:京国艺 发布:2012-11-28 发布:驱动下载
仪器概述
GY-MARS/T 6600型 贵金属分析仪是贵金属分析仪中的高端产品。可实现贵金属、镀层、表面均匀度检测,符合新国标GB18043-2013。该产品可应用于银行、技术监督部门、进出口检疫、大型黄金企业等众多行业。

仪器采用了电制冷SI-PIN半导体探测器,最佳分辨率为149eV。能很好地检测被测物中的各种元素,降低元素间的干扰,有效测量黄金、铂金中的铱含量。 6mm2的探测面积,具有优秀的点对点测量能力。配合来自美国的最先进的第五代II型数字信号处理器,分析速度和系统处理能力在第五代I型处理器基础上进一步提高,计数率最高可达400万,测试稳定性和准确性比第五代I型处理器提高1倍。
产品特点:
1. 符合国家首饰新标准GB18043-2013。

2.  操作简便,测量时间短,不需要辅助材料,不需损毁样品。
3. 全封闭式金属机箱及防泄漏保护设计,更好地保障操作员的人身安全。
4.  精确的样品成像准直系统,实现对样品的准确点测。
5.  国际领先的数据分析方法,使测量结果更加精确。
6. 打印机可连续打印测量报告。
7.  自定义工作曲线,可分析多种镀层厚度。
8. 采用来自美国的先进的电制冷SI-PIN半导体探测器,探测面积6mm2,具有优秀的点对点测量能力。分辨率可达149eV,远优于国标GB18043-2008。因此大大降低了元素间的干扰,可准确检测铂金含铱、黄金含铱等复杂成分样品,防止购回业务中产生误判带来经济损失。
9.  采用来自美国的高压电源,配合原厂的数字控制板,稳定性远远高于国内同类产品。
10.  高分辨率图谱即时显示,由不同色块加以判断区分,清晰明了,易于判别。
11. 水冷X光管配合光管保养程序,散热更好,有效延长X光管寿命,降低用户使用成本。
12.  采用来自美国的最先进第五代II型数字信号处理器,数据的稳定性和准确性比第五代I型处理器提高1倍,技术水平国际领先
13.    多样品多点测量系统采用全自动数控精密位移样品台,配合我公司多年研发的专用软件,操作简单,定位精确。可进行多样品多点连续测量及均匀度、分布梯度分析,节省时间,优化工作流程,避免不均匀带来的测量误差。
具备高含量精密分析模式,可对99.9%(千足金)到99.999%进行有效分析。

技术指标: 
1.外型尺寸:710×540×435(mm) 
2.样品仓尺寸:
400×340×150 ( mm ) 
3.重量:59kg 
4.工作环境温度:
10—28℃
5.工作环境相对湿度:≤80%
6.元素分析范围:
硫(S)到铀(U) 
7.含量分析范围:
1ppm—99.99%
8. 分析精度:  0.01%-0.1%(足金以上精度≤0.05%)
9.测量时间:100-300s (推荐)
10.分辨率:149eV FWHM @ 5.9keV
11.电源:AC100—240(V) 
12.电源频率:47—63(Hz) 
13.
探测器类型:电制冷SI-PIN半导体探测器
14.信号处理器:美国原产第五代II型数字信号处理


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